SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由主機(ji)(ji)、測(ce)(ce)(ce)試探頭（可(ke)選配測(ce)(ce)(ce)試臺）等(deng)部(bu)分(fen)組(zu)(zu)成，測(ce)(ce)(ce)試結果(guo)由數字表頭直接顯示。主機(ji)(ji)主要由數控恒(heng)流源，高(gao)(gao)分(fen)辨率ADC、嵌入式單(dan)片機(ji)(ji)系統組(zu)(zu)成，自動轉換量(liang)程。測(ce)(ce)(ce)試探頭高(gao)(gao)分(fen)子(zi)材料和(he)高(gao)(gao)耐(nai)磨碳化(hua)鎢(wu)探針制(zhi)成，故定位準確、游(you)移率小(xiao)、壽命(ming)長。儀器具有測(ce)(ce)(ce)量(liang)精度(du)高(gao)(gao)、靈敏度(du)高(gao)(gao)、穩定性好、智能(neng)化(hua)程度(du)高(gao)(gao)、測(ce)(ce)(ce)量(liang)簡便、結構緊湊(cou)、使(shi)用方便等(deng)特(te)點(dian)(自動調零)。可(ke)鑒別半導體PN類(lei)別。