半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

   
該(gai)系列儀器(qi)的技(ji)術(shu)(shu)指標均滿足國家計(ji)量總局頒(ban)布(bu)的JJG547-88檢定(ding)規程(cheng)的要求，整機功能(neng)采用美(mei)國微電腦(nao)控制處理技(ji)術(shu)(shu)及上SMT芯(xin)片貼片封裝技(ji)術(shu)(shu)和半導體激光傳感器(qi)技(ji)術(shu)(shu)及防噪聲氣泵，可直接打(da)印(yin)檢測(ce)結果。具有功能(neng)多、測(ce)量精度(du)高(gao)、速度(du)快、便于攜帶(dai)和操作(zuo)簡單等特點。儀器(qi)一(yi)次采樣可同時測(ce)得多種(zhong)粒(li)徑(jing)(jing)的塵(chen)埃粒(li)子數，并能(neng)選擇觀察其(qi)(qi)中(zhong)某一(yi)粒(li)徑(jing)(jing)粒(li)子的數目及其(qi)(qi)變化情況(kuang)，對于研究、檢測(ce)和評價(jia)各種(zhong)潔凈(jing)環境都十分方便。該(gai)系列儀器(qi)性能(neng)設計(ji)、質量穩定(ding)可靠

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

   
　　該系列產品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監測凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環境，醫療器械生產環境，醫院潔凈手術室，汽車噴涂環境微電子、制藥、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范及電子生產企業的儀器。 半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

主(zhu)要技術參數及性能：

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

1.光源: 全半導體 激光光源 
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 
3.檢測范圍: 100級～100萬級  
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L 
5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔 
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。 
7.采樣周期: 1～10 (min) 
8.自凈時間: ≤15 (min) 
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST）
10.工作環境: 溫度:10～35℃    相對溫度: 20～75%RH 
11.Z大功耗: 25W 
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購） 
（1）         溫度：0～50℃±1℃ 
（2）         濕度：0～100%RH±5% 
13.采樣點數   2～7點設定 
14.每點采樣次數   2～9次設定 
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準 
16.工作時間：8 小時 
17.電源： AC220V±10%    50±2Hz 
18.重量:4.8kg 
19.外形尺寸: 260×130×340 
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。 
21.備(bei)注: 內(nei)置打印機、自動判斷凈化等級(ji)、等動力(li)采(cai)(cai)樣(yang)頭、采(cai)(cai)樣(yang)架(jia)

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D