礦用隔爆兼本安型監控分站型號查詢：KJ71B-F2

KJ71B煤礦 監控系統是針對煤礦現場實際情況，面向用戶研制開發的一套 監控系統。該系統主要由以下幾部分組成： KJ71B監控軟件，KJ71B-F1礦用本安型監控分站，KJ71B-F2礦用隔爆兼本安型監控分站，KDW0.25/660礦用隔爆兼本安型電源箱， KJ365-J傳輸接口。配套傳感器有：CGY-1遙控甲烷傳感器、GPD5礦用差壓傳感器、GTH1000一氧化碳傳感器、GWD100礦用溫度傳感器等。KJ71B監控系統軟件操作簡單，功能強大，是煤礦通風管理的得力助手

產品名稱：非接觸厚度電阻率測試儀 產品型號：JXNRT1

非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1 
一、測試原理 
1、電阻率測試探頭原理 
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續的處理電路組成。將半導體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導體硅片中會產生渦流效應，通過檢測渦流效應的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。 
2、厚度測試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復性好，測試數值穩定，技術成熟等優點，廣泛用于各種材料厚度的測試。 
  
二、適用范圍 
本設備為非接觸無損測量設備，測試過程中對硅片表面以及內部不會造成損傷。特別適用于代替四探針法用于半導體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標進行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產廠商、半導體器件生產廠商、光伏企業、導電薄膜生產企業。 
三、儀器構成 
1、測試主機：1 臺 
2、電源線：1 根 
3、串口數據線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個 

四、儀器外觀尺寸結構及圖片 
1、整機尺寸：340*260*180mm 
2、機箱顏色：電腦白 


3、儀器結構：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標 
1、電氣規格 
a. 使用標準三插頭，由 220V 交流電供電，整機功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規范，請確保電源地線正確連接。 
2、測試范圍 
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測試范圍可以擴展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內的可以按要求調整， 調整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區域。

                                            

產品名稱：數顯維氏硬度計  產品型號：HVS-30

數顯維氏硬度計 型號：HVS-50

1. HVS-50型數顯維氏硬度計 
   該機采用無摩擦主軸，試驗力精度高；數字式壓痕自動測量系統；試驗過程自動化，無人為操作誤差；大型LCD液晶顯示屏，菜單操作，功能齊全（數據處理、硬度轉換等）；自動數字顯示，無人為讀數誤差；隨機打印機打印硬度測試結果；精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美國ASTM E92。  
   數顯維氏硬度計主要應用范圍 
   滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件；材料強度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度；應用范圍廣，特別適用于平行平面的精密測量。 
   數顯維氏硬度計主要技術參數 
   測量范圍：5-2900HV 
   試 驗 力：9.807、49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛頓 
                 (1、5、10、20、30、50公斤力) 
   試件允許大高度：180毫米                壓頭中心至機壁距離：125毫米 
   光學測微計放大倍數：125倍，50倍        小檢測單位：0.5微米     
   電     源：交流220伏，50/60赫茲         外形尺寸：580 x 260 x 730毫米 
   重     量：約90千克 
   數顯維氏硬度計主要附件 
   大平試臺：1個             小平試臺：     1個 
   V形試臺： 1個            標準維氏壓頭：1只 
   標準維氏硬度塊：3塊