
EMT-220袖珍式測振儀的詳細資料:
袖珍式測振儀/便攜式測振儀型號:EMT-220
[袖珍式測振儀/便攜式測振儀特性描述]
● 工藝設計,具有功耗低、性能可靠、造型美觀、使用攜帶為方便的特點。
● 按國標制造,測量值與振動烈度標準(ISO 2372)比對可直接判斷設備運行狀態。
● 具有高低頻分檔功能,在振動測量時,便于識別設備故障類型。
● 儀器殼體內表面做有高效電磁屏蔽層,確保在復雜工業電磁環境的可靠測量。
● 備有信號輸入功能,配接溫度傳感器,即可測量溫度。
● 備有信號輸出功能,選配耳機,兼具設備聽診器功能;配接示波器、振動記錄儀等,可用來監測、記錄振動信息。
● 按振動傳感器與主機的連接方式分為一體式和分體式供您選擇。
● 適用于各類機械的振動、溫度測量。
[技術指標]
傳 感 器:一體式環形剪切型加速度傳感器
分體式電荷放大器內置剪切型加速度傳感器
測量范圍:加速度 0.1~199.9m/s2(單峰值) (5或10~1KHz;1K~15KHz)
速 度 0.01~19.99cm/s(有效值) (5或10~1KHz)
位 移 0.001~1.999mm(峰峰值) (5或10~1KHz)
溫 度 0 ℃~400 ℃
測量精度:振 動 5%±2個字
溫 度 1%±1個字
顯示方式:三位半液晶數字顯示
保持特性:測量值自動保持,延時自動關機
信號輸出:交流2V峰值(滿量程及負載大于10K歐姆)
電 源:9V疊層電池1節,可連續使用25小時
體 積:185mm×68mm×30mm
重 量:200g
![]() | 產品名稱:數字式四探針測試儀 產品型號:SZT-4 |
數字式四探針測試儀型號:SZT-4
SZT-4數字式四探針測試儀,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程,小可以測量0.0001Ω大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數,對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT-4數字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。
本儀器工作環境條件為:
溫 度:18℃―25℃
相對濕度:60%-80%
工作室內應無強電場干擾,不與高頻設備共用電源。
二,SZT-4數字式四探針測試儀技術參數
1,測量范圍
電 阻 率:0.01-200Ω-cm
方塊電阻:0.01-200Ω-口
電 阻:0.01-200.0
2,數字電壓表
(1)量 程:200mV單一量程
(2)誤 差:讀數 ±0.2%±3字
(3)輸入電阻:>10MΩ
3,恒流源
(1)電流輸出:0~10mA連續可調
(2)量 程:1mA, 10mA
(3)誤 差:±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
(1)探 針 間 距:1mm
(2)探針機械游移率:±1.0%
(3)探 針 材 料:碳化鎢,φ0.
(4)壓力:大 2Kg
5,電源:220V±10%:50Hz
功耗:5W
6,外形尺寸:
7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測試探頭的插頭插入相應的插座中,按下電源開關使儀器得電,儀器上的數字電壓表就有讀數顯示,如果面板上的二個功能開關全部處於彈出狀態,則二個開關旁邊的“調整”指示燈和:“1mA”指示燈將被點亮,此時旋轉電流調節旋鈕電壓表讀數就會發生有規則的變化,這說明儀器已經可以正常工作。
下一步就可以跟據測試的須要對電流進行調整。電流調整應該將電流開關放在10mA的位置上。
8,電流調整:
(1)半導體(硅)材料的電阻率測試:在10mA電流量程上將電流調到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結果,乘以探頭修正系數0.628。由於恒流源的調整,1mA和10mA是同步的,在`10mA調準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數。
(2)半導體(硅)材料薄層擴散,玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻 測試:在10mA電流量程上將電流調至4.53mA, 測得結果乘以10,就是方塊電阻。
(3)電阻測試:電阻測試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭“電阻測試線”(選配件)。電流調到10mA,電壓表的顯示值就是電阻值,不用修正。
(4)在做好測試前的準備工作之后,取下探頭保護蓋,將探頭壓在被測工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,
使用時的注意事項;
(1)保護蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。
(2)儀器操作時,應備戴乾燥手套,操作場地,桌椅均應保持乾燥。
(3)在被測材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺式測試架(選購件),可使測試精度和穩定性都會有所提高。
(4)對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結果進行厚度修正,修正參數見參數表,附錄`1A和附錄1B 。
(5)附錄2,是對片狀工件外形(園形,矩形)和測量位置的修正參數表。
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