四探針測試儀BT-300H四探針測試儀BT-300H

 是根據四探針(zhen)測(ce)試原理(li)研究(jiu)成(cheng)功的(de)多用途的(de)綜合(he)測(ce)量(liang)裝置(zhi)，它可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)棒(bang)狀(zhuang)、塊狀(zhuang)半導(dao)體材(cai)料的(de)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率和半導(dao)體擴散層(ceng)的(de)薄層(ceng)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)進行測(ce)量(liang)，可(ke)以(yi)從10-6--105Ω—cm全量(liang)程范圍檢測(ce)硅的(de)片狀(zhuang)、棒(bang)狀(zhuang)材(cai)料的(de)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)、薄層(ceng)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)，是硅材(cai)料質量(liang)監測(ce)的(de)必需儀器。

四探針測試儀
儀器主要技術指標：
1． 范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴展至105Ω—cm，
分辯率為10-6Ω—cm
方塊(kuai)電阻10-3—103Ω /電阻10-6—105Ω

2． 可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm
3． 測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）
4． 數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字）
2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字）
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
5． 恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
（3）電流誤差：±（0.3%讀數+2字）
6．四探針測試探頭 （1）探頭間距：1mm (2)探針機械游率：±0.3%
(3) 探針：Φ0.5mm

數字式四探針測試儀型號：SZT-I

SZT-I型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外，探針經過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛適用于半導體材料、器件廠、高等院校化學物理系、科研單位，對半導體材料的電阻性能測試。
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，游移率小，使用壽命長。
技術參數：
1． 測量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測半導體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：31/2,數顯,性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續可調。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±2個字
6.四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7.電源(yuan):220±10% 50Hz或60Hz 功(gong)耗:＜35W

微波(bo)馬(ma)弗爐型號：Touchwin

詳細描述 
主要用途：  
空氣氣氛下各類固體材料的高溫合成、燒結、灰化、熔融及熱處理等。 
主要配置與性能：  
★配備微機控制系統，精確控制升溫速度。  
★觸摸屏顯示和操作，可設置和存儲多條溫控曲線，運行記錄自動存儲，兼容打印機；實時溫度曲線圖顯示，實現加熱過程的動態監控。 
★各種*坩堝可供選擇，保溫結構模塊化，對物料無污染。 
★可加工處理對微波耦合程度不同的材料，通用性好。 
★設置耐腐蝕排氣通道，可快速排出加熱過程中排放的氣體。 
★采用無級可調、高穩定度長壽命、連續波工業級微波源，確保設備能夠連續穩定長時間運行；高精度紅外測溫儀或熱電偶可選，直接測量樣品溫度。 
★安全可靠的微波屏蔽腔體設計，多重防泄漏保護。 
主要應用領域  
★無機粉體合成 
電子陶瓷粉體：鈦酸鋇、鈦酸鍶鋇、鈦酸鍶、鋯鈦酸鋇等 
鋰離子電池正材料：鈷酸鋰、錳酸鋰等 
各種色料、釉料、無機顏料等 
其它無機粉體：四氧化三錳、釔酸鋰、鐵酸鋅、三基色熒光粉紅粉、玻璃、水泥等 
★電子陶瓷燒結 
壓敏電阻、熱敏電阻、壓電陶瓷、微波介質陶瓷等 
★氧化物陶瓷及耐火材料燒結 
氧化鋁、氧化鋯、氧化鎂及其它氧化物復合材料等 
★磁性材料燒結 
Ni-Zn 鐵氧體、旋磁鐵氧體等 
★灰(hui)化(hua)、焚化(hua)、燒損實驗(yan)

平面平整度示波高精度檢測儀 波筋儀型號：5P-BJY

一、簡介

5P-BJY 型平整度檢測儀可以迅速準確地測量出平板物體表面存在的波形分布狀態，特別對于有平面誤差的波形公差檢測分析，儀器小巧，精致，方便攜帶，可以連接電腦，數據保存，可以隨時、隨地，不分大小實時檢測平面物體的波形公差帶大小，精度等級為 0.01/0.001mm2 種, 量程范圍 0. 001~12mm

二、5P-BJY 型平整度檢測儀儀器組成

AJ-5P 型大體運行環境為：

A 高高精準度基鋼板每件；B 千分/百分刻(ke)線金額表一(yi)；C 固定位置螺帽(mao)1顆；D 地座 電氣(qi)支架 2 件(jian)。

三、5P-BJY 型平整度檢測儀適用范圍
1.平板浮法玻璃；
2各種化學鋼化玻璃；
3 各種物理鋼化玻璃；
4 手機基板玻璃；
5太陽能基板玻璃； 
6各種顯示屏玻璃； 
7各種觸摸屏玻璃；
8 各種掃描儀玻璃；
9 其他光學玻璃；
10 其他有平面平整度要求的產品。